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氣體放電管在浪涌抑制電路中的應(yīng)用
由于外界干擾、雷電、過電壓等引起的浪涌對電子設(shè)備會造成嚴(yán)重的損壞。本文通過介紹浪涌電壓產(chǎn)生的機(jī)理，講解氣體放電管的工作原理、特性參數(shù)以及在電路中如何抑制浪涌的危害。
2012-11-01
氣體放電管 浪涌抑制 TVS 壓敏電阻
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具備高電壓輸出功能的電子式絕緣電阻表
在確認(rèn)電氣安全時，如日常檢查和測量接線盒內(nèi)室內(nèi)線纜，電阻表作為基本測量工具是必不可少的。HIOKI在電子式絕緣電阻表方面已有很悠久歷史，這次改良并升級了之前大受好評的2款產(chǎn)品：3454系列和3453電子式絕緣電阻計，以此滿足客戶需求。
2012-11-01
電阻表 電動汽車
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脈搏測量儀
【導(dǎo)讀】本文主要討論脈搏測量儀電路工作原理 、脈搏測量儀軟件設(shè)計、脈搏測量儀安裝與調(diào)試 及其解決方案。
2012-10-31
單片機(jī) 脈搏 測量
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NI推薦選擇硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實(shí)現(xiàn)的實(shí)時處理技術(shù)。本教程討論了多種I/O接口選項(xiàng)，能夠用于實(shí)時處理器創(chuàng)建您的硬件在環(huán)測試系統(tǒng)。
2012-10-31
NI 硬件 測試
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電子負(fù)載應(yīng)用于檢測設(shè)備測試中
隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動、電源模塊測試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言，其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測試設(shè)備。
2012-10-31
電子負(fù)載 檢測設(shè)備 測試
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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進(jìn)步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實(shí)并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調(diào)變失真的測量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調(diào)變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調(diào)變失真特性被稱為“被動的相互調(diào)變失真(passive IMD;PIMD)”。當(dāng)設(shè)計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調(diào)變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設(shè)備的泄漏以及外界干擾等。本文重點(diǎn)談?wù)勆鲜鑫宕笠蛩亍?/p>
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環(huán)測試電路
輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運(yùn)放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測試電路
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